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Keithley 6200/2182A 系列超低電阻配置連接時(shí),2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺(tái)儀器一樣運(yùn)行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導(dǎo)測量的理想工具,比其他解決方案具有更顯著的優(yōu)勢。
Keithley 6200/2182A 系列超低電阻配置
連接時(shí),2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺(tái)儀器一樣運(yùn)行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導(dǎo)測量的理想工具,比其他解決方案具有更顯著的優(yōu)勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術(shù)應(yīng)用,因?yàn)樗鼫y量電阻時(shí)可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率,否則可能會(huì)導(dǎo)致結(jié)果無效,甚至損壞 DUT。
特點(diǎn) | 優(yōu)勢 |
測量電阻范圍為 10n? 至 100M? | 測量范圍非常廣,專門用于超低電阻測量,以檢定高導(dǎo)電性材料、納米材料和超導(dǎo)材料。 |
同步的電流脈沖源,測量時(shí)間短至 50μs | 限制元器件(如納米器件和納米材料)中的功耗,如果以非常低的功率電平進(jìn)行測試,這些元器件很容易損壞。 |
增量模式電流反向、電阻測量技術(shù) | 通過消除熱偏移影響以及將讀數(shù)噪聲降低到 30nV p-p 噪聲(典型值),進(jìn)行精確的超低電阻測量??梢詫?duì)多個(gè)讀數(shù)進(jìn)行平均,以更大程度地降低噪聲。 |
微分電導(dǎo)測量 | 比其他電導(dǎo)測量技術(shù)的速度快十倍,噪聲更小。無需平均多次掃描的結(jié)果,即可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的測量。 |
納伏表和電流源接口無縫配合 | 在進(jìn)行電導(dǎo)與電阻測量時(shí),兩臺(tái)儀器可以像一臺(tái)儀器一樣運(yùn)行。 |
增量、微分電導(dǎo)和脈沖模式產(chǎn)生較小的電流瞬變 | 可以檢定可易被電流尖峰損壞的設(shè)備。 |
Keithley 6200/2182A 系列超低電阻配置